奥林巴斯超声波测厚仪是一种广泛使用的无损检测技术

 

    奥林巴斯超声波测厚仪主要有主机和探头两部分组成。主机电路包括发射电路、接收电路、计数显示电路三部分，由发射电路产生的高压冲击波激励探头，产生超声发射脉冲波，脉冲波经介质介面反射后被接收电路接收，通过单片机计数处理后，经液晶显示器显示厚度数值，奥林巴斯超声波测厚仪主要根据声波在试样中探伤设备的传播速度乘以通过试样的时间的一半而得到试样的厚度。

 

    奥林巴斯超声波测厚仪是一种广泛使用的无损检测技术，它用来从材料一侧测量材料厚度。应用广泛，操作方便快捷，但在使用中要注意仪器的保养和维护，才能更好地发挥作用。

 

    一、 厚度试块的清洁

 

    美国DAKOTA超声波测厚仪由于使用随机试块对仪器进行校准时，需涂耦合剂，所以请注意防锈。使用后将随机试块擦干净。气温较高时不要沾上汗液。

 

    长期不使用应在随机试块表面涂上少许油脂防锈，当再次使用时，将油脂擦净后，即可进行正常工作。

 

    美国DAKOTA超声波测厚仪日常维护注意事项

 

    二、机壳的清洁

 

    酒精、稀释液等对机壳尤其是视窗有腐蚀作用，故清洗时，用少量清水轻轻擦拭即可。

 

    三、探头的保护

 

    a.探头表面为丙烯树脂，对粗糙表面的重划很敏感，因此在使用中应轻按。测粗糙表面时，尽量减少探头在工作表面的划动。

 

    b.常规探头，被测物表面不应超过 60℃，否则探头不能使用。油、灰尘的附着会使探头线逐渐老化、断裂，使用后应清除缆线上的污垢。

 

    c.插拔探头时，应握住插头活动外套沿轴向用力，千万不可旋转探头，否则极易损坏电缆线。

 

    四、电池的更换

 

    美国DAKOTA超声波测厚仪出现低电压指示标志后，应及时更换电池，按下述方式更换：

 

    a. 打开电池仓盖

 

    b. 取出电池，放入新电池，注意极性

 

    c.仪器长时间不使用时应将电池取出，以免电池漏液，腐蚀电池盒与极片。

 

    五、严格避免碰撞、潮湿等。

 

    超声波测厚仪是根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的，当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲被反射回探头，通过测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。凡能使超声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料均可采用此原理测量。按此原理设计的测厚仪可对各种板材和各种加工零件作测量，也可以对生产设备中各种管道和压力容器进行监测，监测它们在使用过程中受腐蚀后的减薄程度。奥林巴斯超声波测厚仪可广泛应用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各个领域。

 

    超声波测厚仪要测量未经耦合的层叠材料是不可能的，因超声波无法穿透未经耦合的空间，而且不能在复合（非均质）材料中匀速传播。对于由多层材料包扎制成的设备，超声波测厚仪测厚时要特别注意，超声波测厚仪的示值仅表示与探头接触的那层材料厚度。奥林巴斯超声波测厚仪测量工件前，根据材料种类预置其声速或根据标准块反测出声速。

 

    当用一种材料校正仪器后（常用试块为钢）又去测量另一种材料时，将产生错误的结果。要求超声波测厚仪在测量前一定要正确识别材料，选择合适声速。在役设备、管道大部分有应力存在，固体材料的应力状况对声速有一定的影响，当应力方向与传播方向一致时，若应力为压应力，则应力作用使工件弹性增加，声速加快；反之，若应力为拉应力，则声速减慢。当应力与波的传播方向不一至时，波动过程中质点振动轨迹受应力干扰，波的传播方向产生偏离。根据资料表明，一般应力增加，声速缓慢增加。

 

    易高涂层测厚仪适用于各种板材和各种加工零件的测量，也可以对生产设备中各种管道和压力容器在使用过程中受腐蚀后的减薄程度进行监测。

 

    磁性测量原理测厚仪又可分为磁吸力原理测厚仪和磁感应原理测厚仪两种，涡流测量原理测厚仪则只有电涡流测厚仪一种。

 

    磁吸力原理测厚仪是利用磁铁测头与导磁的钢材之间的吸力大小与处于这两者之间的距离成一定比例关系来测量覆层的厚度的，这个距离就是覆层的厚度，所以只要覆层与基材的导磁率之差足够大，就可以进行测量。

 

    磁感应原理测厚仪是利用测头经过非铁磁覆层而流入铁基材的磁通大小来测定覆层厚度的，覆层愈厚，磁通愈小。当软铁芯上绕着线圈的测头被放在被测物上后，仪器自动输出测试电流，磁通的大小影响到感应电动势的大小，仪器将该信号放大后来指示覆层厚度。

 

    易高涂层测厚仪是利用高频交流电在作为测头的线圈中产生一个电磁场，将探头靠近导电的金属体时，就在金属材料中形成涡流，这个涡流随着与金属体的距离减小而增大，并且会影响探头线圈的磁通，此反馈作用量就是表示探头与基体金属之间间距大小的一个量值。

 

    电涡流法测头用在非铁磁金属基体上测量覆层厚度，所以通常我们称该测头为非磁性测头。与磁性测量原理比较，它们的电原理基本一样，主要区别是测头不同，测试电流的频率大小不同，信号大小、标度关系不同。在近两年的测厚仪中，通过不断改进测头结构，再配合微电脑技术，由自动识别不同测头来调用不同的控制程序，分别输出不同的测试电流和改变标度变换软件，终于使两种不同类型的测头接在同一台测厚仪上，基于同一思想，可配接达10种测头的测厚仪也应运而生。

 

    易高涂层测厚仪是根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的，当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲被反射回探头，通过测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。

 

    虽然几种奥林巴斯超声波测厚仪在校准中测量点和标准材料的选择上有很多不同，但在操作中都有一些相同的需要注意的地方，如每种测厚仪对基体的表面曲率和小厚度都有一个下限的规定，在实际校准中应选择尺寸合理的基体进行操作；测量中测头的取向和压力也会对结果有影响，要保持测头与基体的垂直、压力恒定并尽可能小；另外，校准覆层测厚仪时还要注意外界磁场和基体剩磁的干扰，校准超声波测厚仪时要注意温度变化和耦合剂粘度的影响。