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日本KETT膜厚计LE-373涂层测厚仪LZ-373

产品时间:2024-07-02

简要描述:

日本KETT膜厚计LE-373涂层测厚仪LZ-373,LZ-990 LE-373 LH-373 LZ-373 LE-200J LH-200J LZ-200J仪器采用电磁式和涡流两种测厚方法,可无损的测量磁性金属基体(如钢、铁、合金和硬磁性钢等)上非磁性覆层的厚度(如铝、铬、珐琅、橡胶、油漆等)。

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日本KETT膜厚计LE-373涂层测厚仪LZ-373

 

 

本仪器采用电磁式和涡流两种测厚方法,可无损的测量磁性金属基体(如钢、铁、合金和硬磁性钢等)上非磁性覆层的厚度(如铝、铬、珐琅、橡胶、油漆等)。

 

 

型号LE-373
测定方法电磁式
测定对象磁性金属基体上的非磁性涂镀层
测定范围0-2500µm
测定精度<50µm±1µm  , 50µm-1000µm±2%  , 1000µm-2000µm±3%
分辨率<100µm为0.1µm , >100µm为1µm
记忆数据大约3000个
附加功能

1.程序选择 2.基体修正 3.数据删除 4.数据统计 5.设定上下限6.数据统计

(测定次数 最大值 最小值 标准偏差) 7.语言选择(中、英、日、韩)8.日期时间 

9.自动关机设定 10.背景灯光选择 11.背景灯光的时间设定 12.单位 13.数据输出

测头点触式(LEP-J)
显示方式数字LCD显示(背光灯可自行选择开关)
数据输出电脑输出(USB或者RS-232C)或者连接打印机
电源4节1.5V碱性电池
存储通道有50个通道可供选择
尺寸重量75(W)×145(D)×31(H)mm , 0.34Kg
标准配置基体 / 标准片 / 4节碱性电池 / 测头 / 皮套
可选配置数据管理软件(LDL-03) / 不同厚度的标准片 / 打印机VZ-330

日本KETT膜厚计LE-373涂层测厚仪LZ-373

 

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