SEB2探头

晶片尺寸 D 或 a ×b

探头晶片的直径D或长度×宽度a ×b 。它的尺寸大小对声波的传输有极大的影响 。轻微的偏差，如形状的偏差,或粘接不良造成的位置偏差而产生的声能衰减，即使是利用参考缺陷进行标定,都将产生严重的评估误差。

标称频率f

所有相同类型探头的均值频率，频率对反射体的评定有大的影响 。对斜反射体，频率甚至影响声场 波形和反射特性 。随着频率的增加，非垂直反射体对声束的反射回波减小 。这就是为什么每一个探头都要由我们的质量控制部门根据鉴定标准进行严格检测，以确定其频率是否与标称频率相一致，保证在一定的误差范围内。这个数据输入到探头的数据参数表。

带宽B

脉冲回波的幅值比最高幅值下降6dB之间的频率范围。

fo=幅值下降6dB的上限频率，fu=幅值下降6dB的下限频率，f为标称频率。 例如，当B=100%， 一个4 MHz的探头的fo为6 MHz，而fu为2 MHz。

大的带宽意味着更短的脉冲回波，也就意味着高的分辨率和更好的穿透能力， 因为低频脉冲比标称频 率脉冲的衰减小 。在高衰减情形下，与标称频率相比，随着距离的增加，反射信号的频率减小 。这一 点在进行缺陷评估时必须要加以考虑 。因此每一个探头的带宽都要进行检查，并且与所有探头的平均值相一致，保证在一定的误差范围内。

焦距F

F ：小缺陷产生蕞大回波时探头到小缺陷的距离。探头要进行聚焦以便探测小缺陷并得到蕞大的回波幅值，只有在探头的近场才可能聚焦。

近场长度N

近场长度N是非聚焦探头的焦距长度，它是声轴线上能得到声压ji大值的最远距离 。N的大小由D 、c 和f来决定 。

其中λ为波长，c为声速， Deff是单元有效直径

焦点处和近场长度处声能最为集中，反射体最易识别。因此重要测试场合一般预期缺陷在焦距或近场长度处。表中的数据对钢材而言，而水浸探头为水。

焦点直径FD6

在焦距或近场长度附近，声压值比主声轴下降6dB处到主声轴的距离 。

脉冲形状

来自于平面反射面的信号表述。

频谱

回波脉冲中所有频率的显示，频率幅值在频率上显示。

声束角度 β

主声束与检测面法线之间的夹角